21

Braccioli, Marco (2009) Study of silicon-on-insulator multiple-gate MOS structures including band-gap engineering and self heating effects, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Tecnologie dell'informazione, 21 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/1515.

Zanolla, Nicola (2009) Characterization and modeling of low-frequency noise in MOSFETs, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Tecnologie dell'informazione, 21 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/1333.

23

Berti, Claudio (2011) Numerical simulation of ion transport through ion channels and solid-state nanopores, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Tecnologie dell'informazione, 23 Ciclo.

24

Zanuccoli, Mauro (2012) Advanced Numerical Simulation of Silicon-Based Solar Cells, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Tecnologie dell'informazione, 24 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/4566.

25

Giaffreda, Daniele (2013) Modelling and Design of Advanced Reliable Circuits and Devices for Energy Efficiency, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Tecnologie dell'informazione, 25 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/5717.

29

Tallarico, Andrea Natale (2017) Characterization and Modeling of Semiconductor Power Devices Reliability, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Ingegneria elettronica, telecomunicazioni e tecnologie dell'informazione, 29 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/7990.

30

Nicolai, Massimo (2018) Modeling and Characterization of Semiconductor Devices for Energy Efficiency, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Ingegneria elettronica, telecomunicazioni e tecnologie dell'informazione, 30 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/8374.

35

Giuliano, Federico (2023) Physical modeling and numerical simulations of degradation mechanisms in devices and insulators for power applications, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Ingegneria elettronica, telecomunicazioni e tecnologie dell'informazione, 35 Ciclo. DOI 10.48676/unibo/amsdottorato/10925.