Su di un livello |
Capasso, Giuseppe (2024) Long-term reliability of power GaN HEMTS, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Ingegneria elettronica, telecomunicazioni e tecnologie dell'informazione, 36 Ciclo. DOI 10.48676/unibo/amsdottorato/11174.