36

Millesimo, Maurizio (2024) Experimental characterization and modeling of GaN-based power devices reliability, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Ingegneria elettronica, telecomunicazioni e tecnologie dell'informazione, 36 Ciclo. DOI 10.48676/unibo/amsdottorato/11323.