Simulations and interpretation of holographic TEM images of biased and unbiased electronic devices

Ubaldi, Filippo (2009) Simulations and interpretation of holographic TEM images of biased and unbiased electronic devices , [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Fisica, 20 Ciclo. DOI 10.6092/unibo/amsdottorato/2195.
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Abstract

Abstract
Tipologia del documento
Tesi di dottorato
Autore
Ubaldi, Filippo
Supervisore
Pozzi, Giulio
Dottorato di ricerca
Fisica
Ciclo
20
Coordinatore
Ortolani, Fabio
Settore disciplinare
Area 02 - Scienze fisiche > FIS/01 Fisica sperimentale
Parole chiave
electron microscopy holography semiconductors image simulations
URN:NBN
urn:nbn:it:unibo-1737
DOI
10.6092/unibo/amsdottorato/2195
Data di discussione
25 Maggio 2009
URI
http://amsdottorato.unibo.it/id/eprint/2195

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